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《第二十届电工理论学术年会论文集》2008年
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大规模集成电路相关测试标准的剖析

杜社会  刘美荣  阳辉  方葛丰  
【摘要】:集成电路测试是保证集成电路质量、发展的关键手段。本文介绍了IEEE 1149.1-1990到IEEE 1149.6-2003、IEEE 1450、IEEE 1500、IEEE-ISTO Nexus 5001等测试标准,总结了集成电路测试标准的特点,并对以后集成电路测试标准的发展给出了预测。
【作者单位】:湖南大学电气与信息工程学院
【分类号】:TN47

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