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散射效应对理论计算X射线荧光强度的影响

卓尚军  韩小元  申如香  盛成  
【摘要】:正基本参数法在X射线荧光光谱定量分析领域中的研究和应用越来越广泛。但是在基本参数法理论计算中,人们长期忽视了样品中散射效应对荧光的增强,这种忽略造成了基本参数法理论模型不完善。本文以基本参数法理论计算公式为基础,计算了不同样品体系中不同波长的X射线荧光理论计算强度受散射效应影响的情况。并推导了X射线荧光光谱表征镀层薄膜样品时,散射对荧光的增强效应的计算公式。以纯元素样品、BaB合金样品和熔融片样品为

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