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《第八届全国信息获取与处理学术会议论文集》2010年
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二维电子倍增器件特性测试和系统模拟的新方法

向嵘  陈立  李野  吴奎  姜德龙  王新  田景全  
【摘要】:文中给出了二维电子倍增器件倍增特性测试和像管动态模拟的UV光电法的结构原理,指出了电流密度分布均匀的面电子源的选择是关键;测量了MCP(或覆离子壁垒膜)电子增益和膜层电子透过特性,给出了死电压及其与膜厚的关系,指出了其实用性;首次提出了等效阴极概念,论述了双MCP测试系统的结构原理,即用UV直接激发MCP_1所致电子发射替代替代Au薄膜的光电发射,藉以测量另一块MCP_2的特性的UV激发新方法,指出了其在离子壁垒膜对离子透阻特性研究中的应用前景。
【作者单位】:长春理工大学 中国机械装备研究院
【分类号】:TN152

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【参考文献】
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