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《2007'仪表,自动化及先进集成技术大会论文集(二)》2007年
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通用SoC芯片中存储器的一种整体测试方法

谈恩民  王彦婷  
【摘要】:随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC 芯片的结构也越来越复杂,嵌入在 SoC 芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此 SoC 中存储器的测试显得尤为重要。基于面向字测试 March C 算法的基础上,本为提出了对 SoC 中嵌入式存储器的一种并行测试方案。试验结果表明,在不影响故障覆盖率的基础上,本方案具有节省硬件开销,提高测试效率等优点。

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