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《2007'中国仪器仪表与测控技术交流大会论文集(二)》 2007年
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基于SoC的BIST静态功耗优化设计

谈恩民  刘建军  钱文武  施文康  
【摘要】:随着制造工艺的发展,功耗成为集成电路设计中的一个十分关键的问题,传统的低功耗设计主要围绕动态功耗的估计和优化展开。进入深亚微米工艺后,出现了很多新的功耗问题,例如漏电流的迅猛增长引起了一系列新问题的产生。在90 nm 工艺下,漏电流引起的静态功耗占整个功耗的42%以上,将与动态功耗相抗衡,成为集成电路功耗问题上不可忽视的部分。文章根据漏电流的特性,提出了静态功耗的优化方案。

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