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《2010第十五届可靠性学术年会论文集》2010年
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基于遗传算法改进GM(1,1)模型的元器件非工作可靠性参数预测

杨少华  
【摘要】:针对灰色预测GM(1,1)模型的缺点,本文引入遗传算法改进的灰色模型,并利用其对某集成运放的非工作可靠性参数进行预测。实例计算表明,遗传算法优化的GM(1,1)模型预测精度有所提高,验证了该方法具有正确性与有效性。

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【参考文献】
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