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《2008第六届电子产品防护技术研讨会论文集》2008年
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集成电路ESD设计验证技术

罗宏伟  肖庆中  
【摘要】:TLP 测试是当前电路设计工程师研究 ESD 保护器件特性和进行 ESD 加固设计的有力工具。本文分析了 ESD 应力作用下 MOSFET 的工作原理,指出精确测试保护器件或电路在 ESD 大电流应力下的 IV 特性曲线,提取特征参数将有利于 ESD 加固设计的一次成功;通过对典型 TLP 测试波形的分析,将 TLP 试验与器件的大电流响应建立了联系;最后对扩散电阻和 nMOSFET 的 TLP 典型 IV 特性进行了分析,并给出了实际的设计参数。
【作者单位】:信息产业部电子五所分析中心
【分类号】:TN407

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