一种测量纳米材料高频特性的新方法
【摘要】:本文介绍一种使用同轴线制备简易高频测试平台、运用射频设备测量纳米尺度样品高频性能的方法。使用该方法,窄脉冲射频信号在传输线中的延时测量精度达到10皮秒左右,发现了铜芯同轴传输线与多壁碳管同轴传输线的传输特性的区别。这一方法有可能推广到测试其他小尺度样品高频特性的研究中。
【作者单位】:纳米器件物理与化学教育部重点实验室北京大学电子学系 北京大学元培学院 北京大学物理学院 北京大学微电子学系 北京大学化学学院
【基金】:国家科技部(项目编号2006CB932401) 国家自然科学基金(项目编号10774002)的资助 “北京大学微纳加工实验室”的大力支持
【分类号】:TB383.1
【基金】:国家科技部(项目编号2006CB932401) 国家自然科学基金(项目编号10774002)的资助 “北京大学微纳加工实验室”的大力支持
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