基于冲击模型的电子设备可靠度计算模型
【摘要】：冲击模型分为累积冲击模型和极端值冲击模型,前者研究冲击作用的累积效应,后者研究极端值效应。本论文在假设应力大于强度,产品就会岀现故障的前提下,结合泊松过程的特点,根据后者先研究离散作用应力下强度为常数的微小单元的可靠度计算模型,在此基础上建立了强度为随机变量的电子设备的可靠度计算模型,该模型不仅符合SSI的思想,并且将时间变量引入进米,给出了可靠度与时间的函数关系。最后,给岀实例,验证该模型的适用性。
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丁定浩;;系统可靠度预测的基础——确定国产电子元器件失效率特性途径的探讨[J];现代雷达;1980年05期 |
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李颖,潘勇;电子设备现场可靠性信息采集与分析[J];电子产品可靠性与环境试验;2003年06期 |
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