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《第二届全国信息与电子工程学术交流会暨第十三届四川省电子学会曙光分会学术年会论文集》2006年
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功率MOSFET低温工作特性分析

董志芳  
【摘要】:某电子产品进行温度循环筛选时,其中的开关电源模块在低温出现工作异常,故障定位在模块中功率MOSFET低温工作性能的变化上。通过参数测试、理论分析并结合仿真,阐述了栅极驱动电压、导通电阻与温度间的关系,解决了出现的故障,并提出了设计功率MOSFET驱动电路时需要注意的问题。
【作者单位】:中国工程物理研究院电子工程研究所
【分类号】:TN386

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