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《第十四届全国核物理大会暨第十届会员代表大会论文集》2010年
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用正电子湮没谱学研究位错与空位的关联

庞锦标  李辉  周凯  王柱  
【摘要】:正通常正电子寿命谱谱分析程序只能分析孤立的缺陷,当出现缺陷关联的情况时,常规的寿命谱分解程序无法处理,长期困扰着正电子工作者对复杂缺陷体系的研究。
【作者单位】:武汉大学物理科学与技术学院,核固体物理省重点实验室
【分类号】:O572.322

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