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《第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集》2009年
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集成电路的辐射能力小子样评估技术

崔帅  牛振红  张力  
【摘要】:本文在对典型集成电路80C196KC20的总剂量试验数据分析的基础上,对其总剂量损伤分布和损伤特征进行了研究,运用Bayes原理对试验数据进行分析,研究发现,集成电路80C196KC20的总剂量损伤分布服从正态分布,运用bayes方法可提高评估精度、减少评估费用。

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【参考文献】
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