集成电路的辐射能力小子样评估技术
【摘要】:本文在对典型集成电路80C196KC20的总剂量试验数据分析的基础上,对其总剂量损伤分布和损伤特征进行了研究,运用Bayes原理对试验数据进行分析,研究发现,集成电路80C196KC20的总剂量损伤分布服从正态分布,运用bayes方法可提高评估精度、减少评估费用。
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