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《第十四届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(2)》2008年
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光子诱发正电子湮没分析技术在金属材料缺陷特性分析中的应用研究

杨祎罡  李铁柱  杜英超  李元景  刘以农  
【摘要】:本文研究了利用高能X射线对被检测材料进行正电子湮没分析的技术。与传统使用正电子发射体(如放射源)不同,本研究能够在材料的内部产生正电子,从而能够实现对材料深处缺陷的检测。论文建立了一个基于15MeV电子加速器的实验装置,并对低碳钢材料在不同拉伸情况下的缺陷特性进行了检测。实验结果显示,对于不同拉伸程度的材料,本技术能够对其缺陷特性进行检测。
【作者单位】:清华大学工程物理系 同方威视股份有限公司
【分类号】:TG115.2

【共引文献】
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