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《第9届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集》1998年
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分时高速Si(Li)软X射线能谱仪测量高温等离子体的电子温度和重金属杂质含量

杨进蔚  曾庆希  张炜  张光阳  
【摘要】:本文叙述了用三探头Si(Li)漂移探测器测量HL—1M托卡马克等离子体辐射的软X射线能谱,得到等离子体温度以及重金属杂质水平随时间变化,自制4096道快速分时多道分析器,其时间分辨可达50ms,每次放电可测16个谱,每个谱256道,探测系统的能量测量范围1.25~25keV之间。

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