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《第7届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(三)》1994年
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用X射线荧光分析法测量铁板镀锌厚度

安福林  
【摘要】:本文介绍的镀锌测厚仪以238Pu作激发光子源.用正比计数器作为探测器.具有体积小、精度高、价格便宜的特点,最适合干0~100g/m2电镀锌的测量.
【作者单位】:清华大学核能技术设计研究院
【分类号】:TQ153

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1 安福林;;用X射线荧光分析法测量铁板镀锌厚度[A];第7届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(三)[C];1994年
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