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《第7届全国核电子学与核探测技术学术年会论文集(二)》1994年
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影响Si(Li)探测器性能的一些因素

俞嗣皎  李大庆  陈国柱  李井怀  于甜  
【摘要】:本文简略地讨论了硅单晶的晶格缺陷、杂质等对 Si(Li)探测器性能的影响,也讨论了探测器制备工艺和电子测试系统对探测器性能的影响并给出了一些实验结果.

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