原位观察单根ZnO纳米线同质外延生长

【摘要】：先进的材料生长表征手段对于材料合成以及材料生长机理的研究具有重要意义,实现对材料生长的原位监测能够促使生长动力学的研究更为精确和直观。目前用于低维纳米材料,薄膜生长的原位监测手段有X射线衍射(XRD),光谱仪,高能电子衍射等,但其均无法实时地观察其形貌演化过程。环境扫描电镜(ESEM)热台附件可以实现特定材料的原位合成,同时辅以原位观察,便可实现对生长形貌的实时监测。

【作者单位】：北京大学物理学院纳米结构与低维物理实验室北京大学电子显微镜实验室
【分类号】：TB383.1

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5	毛磊;旅美中国学者杨培东及同事在纳米线领域取得重要进展[N];人民日报海外版;2002年
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9	吕金鹏;Al~（3+）掺杂抗静电改性ZnO颜料制备及其质子辐照效应[D];哈尔滨工业大学;2010年
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