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《第三届中国功能材料及其应用学术会议论文集》1998年
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聚四氟乙烯多孔膜驻极体的突出电荷储存稳定性及其结构根源

夏钟福  江键  宋聚平  陈钢进  张冶文  
【摘要】:利用等温表面电位衰减测量等手段研究了聚四氟乙烯(PTFE)多孔薄膜(孔径约1~5μm,孔度约50%)驻极体突出的电荷储存稳定性。借助于扫描电镜(SEM),X射线衍射谱及红外透射谱等微结构分析探索了形成这一电荷储存高稳定性的结构根源。此外,本文还对多孔PTFE、高密度PTFE,可熔性聚四氟乙烯(PFA)、氟化乙丙烯共聚物(FEP)及聚三氟氯乙烯(PCTFE)薄膜驻极体的电荷储存稳定性进行了比较性的研究。

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