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《中国工程物理研究院科技年报(2008年版)》2009年
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散射环境下钨的质量吸收系数测量

江孝国  王伟  王婉丽  谭肇  祈双喜  王云秀  
【摘要】:正CsI:Tl晶体在辐射成像系统中的作用是非常重要的,利用CCD作为图像记录的X光探测系统的响应性能与其有密切的关系。为了得到响应关系的大致形式,在30 MeV的射频加速器上,曾经用厚度为5, 10,20 mm的CsI:Tl晶体作过研究,对于每一种厚度的CsI:Tl晶体,响应还是线性的,但是彼此之间响应
【分类号】:O562

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