底片系统的标定与对比样品
【摘要】：正在开展精密闪光照相实验时,需要对X射线图像探测系统进行绝对标定。常用的底片系统的标定方法是对比块方法。根据定量测量的要求,我们需要建立在一定的照相条件下,底片黑密度D与穿透材料厚度l(或密度长度ρl)的关系。由于X光与物质作用的复杂性,严格建立这样的关系是困难的,这些与X光源的特性(如光斑大小、光场均匀性等)以及实验样品的几何等因素有关。这里主要研究对比样品的几何与可比性的关系。
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