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《中国核动力研究设计院科学技术年报(2009)》 2011年
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钼同位素丰度的负热电离质谱测量

梁帮宏  邓辉  杨彬  张舸  张春华  张劲松  
【摘要】:本文建立了一种负热电离质谱测量钼同位素丰度比的方法,文章介绍了涂样、升温、杯结构设置等测量过程。该方法采用双铼带结构,选用氯化锶(SrCl_2)作发射剂,测量结果扣除了氧同位素的影响。当钼的涂样量为0.1~1μg时,能电离出100mV以上持续稳定的MoO_3负离子团,钼同位素丰度比测量值的相对标准偏差在0.046~0.171%之间。

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