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《第十一届全国可靠性物理学术讨论会论文集》2005年
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微处理器(CPU)的稳态电离辐射(总剂量)试验

吴琦  魏建中  
【摘要】:本文简单介绍了集成电路稳态电高辐射(总剂量)试验的原理、标准、条件和程序,并以3款不同的微处理器(CPU)为例,按GJB548A方法1019A进行了稳态电高辐射(总剂量)试验,试验结果反映了不同CPU 的不同抗辐照能力,试验示例说明,GJB548A方法1019A是检验微电子器件抗辐照能力的有效试验手段。

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