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多管脚IC的抗静电能力测试方法探讨

李兴鸿  赵春荣  
【摘要】:本文介绍了当集成电路管脚比较多时在进行静电试验中出现的通道数不够和试验时间过长的问题,并介绍了用附加测试板解决测试仪通道少的方法和缩短脉冲间隔时间以及减少脉冲数量和最坏情况法来减少试验时间的方法.

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