【摘要】：应变规钻孔法量测残留应力法虽应用广泛但缺点在无法得到待测物表面全场的位移分布,而结合云纹干涉术与电子光斑干涉术的光测力学量测技术可以得到待测物表面较大范围的位移与应变、应力信息,并可进一步提高残留应力量测的准确度。本实验室在发展云纹干涉术结合钻孔法量测残留应力研究上体察到云纹干涉术在试片处理、光柵黏贴及待测物表面平整度等要求与限制下,在实际应用上仍有较大限制,所以继续发展电子光斑干涉术来量测钻孔后所释放的应力。